技術(shù)編號(hào)：10721655
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 非制冷型紅外焦平面陣列探測器以其體積小、重量輕、功耗低和高性價(jià)比等特點(diǎn)， 在軍事、工業(yè)、醫(yī)療等多個(gè)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。但由于它脫離了制冷設(shè)備，使得探測器自身 工作溫度的變化導(dǎo)致非均勻性的變化。紅外焦平面的非均勻性產(chǎn)生大致可以分為兩類探 測元的非一致性和讀出通道的非一致性。為了得到更加真實(shí)的圖像，紅外熱像儀中對(duì)非均 勻性的補(bǔ)償通常包括系統(tǒng)級(jí)的補(bǔ)償和電路級(jí)的補(bǔ)償。 探測元的非均勻性是指由于工藝偏差問題，各探測元在不同工作溫度下對(duì)同一目 標(biāo)溫度的不同熱敏現(xiàn)象，非...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。