技術(shù)編號(hào):10767934
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。對(duì)于電容器等電子元件,其在出廠前通常需要通過(guò)探針進(jìn)行通電測(cè)試,來(lái)檢測(cè)其電性能是否達(dá)到出廠標(biāo)準(zhǔn)。目前對(duì)于產(chǎn)品的探針測(cè)試主要通過(guò)兩種方式實(shí)現(xiàn)。一種是,人工拿著探針筆對(duì)著產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試;另一種是,將探針安裝于氣缸等驅(qū)動(dòng)裝置上,通過(guò)氣缸帶動(dòng)探針不斷地上下運(yùn)動(dòng)來(lái)接觸產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試?,F(xiàn)有的這種探針結(jié)構(gòu)或者說(shuō)方式,由于探針都是出于不穩(wěn)固的狀態(tài),探針的可靠性容易受到影響,同時(shí)探針出于不斷的運(yùn)動(dòng)中,在兩個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試作業(yè)之間會(huì)處于較長(zhǎng)的停頓間歇之中,在測(cè)試效率上也具有劣勢(shì);并且,...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。