技術(shù)編號(hào)：10920612
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 當(dāng)今科技的發(fā)展對(duì)天線的性能要求越來(lái)越高，天線設(shè)計(jì)和天線測(cè)量是天線特性研 究的兩個(gè)重要方面，它們相輔相成，相互影響、相互制約。天線測(cè)量可分為遠(yuǎn)場(chǎng)和近場(chǎng)測(cè)量， 無(wú)論何種測(cè)量主要目的是為了獲得天線遠(yuǎn)場(chǎng)輻射特性。天線遠(yuǎn)場(chǎng)輻射特性中增益和副瓣電 平(含前后比）是關(guān)鍵指標(biāo)(劉安邦張宇橋等.《提高天線增益標(biāo)定精度方法研究和誤差評(píng) 估》，微波學(xué)報(bào)，2012年6月）。天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)影響天線增益和副瓣電平(含前后比）測(cè)量誤 差項(xiàng)因素中暗室靜區(qū)性能是主要因素，其關(guān)系分別如下所...
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