技術(shù)編號(hào)：10953927
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。對(duì)ITO導(dǎo)電膜而言，缺陷檢測(cè)包含透明區(qū)域與周圍金屬電極兩個(gè)部分。目前，在國內(nèi)，基于視覺的高分辨率ITO薄膜自動(dòng)缺陷檢測(cè)研究主要針對(duì)薄膜周圍金屬電極或透明區(qū)域外觀(如劃痕、裂紋等)檢測(cè)。對(duì)透明區(qū)域內(nèi)的不可見電路圖案仍以評(píng)估該區(qū)域的電容或電阻值來判定其不良率，視覺的方法極少。然而，電容測(cè)試是一種整體功能評(píng)判方法，存在一些問題。例如，無法保證因細(xì)微加工缺陷帶來的對(duì)定位精度和使用壽命存在的潛在影響，無法將測(cè)試結(jié)果與缺陷類別建立起相互關(guān)系，優(yōu)化生產(chǎn)過程與合格率等，在...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。