技術(shù)編號(hào)：10986781
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。各種光學(xué)精密絕對(duì)位移測(cè)量儀已廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)和科研領(lǐng)域。在光學(xué)絕對(duì)距離測(cè)量方面常常需要給測(cè)量裝置找到兩個(gè)標(biāo)定點(diǎn)，以確定測(cè)量的起點(diǎn)與終點(diǎn)。在傳統(tǒng)的邁克爾遜干涉儀中，進(jìn)行絕對(duì)距離測(cè)量常常使用低相干光干涉的條紋作為標(biāo)定點(diǎn)。而這兩標(biāo)定點(diǎn)的絕對(duì)距離測(cè)量常由機(jī)械齒輪帶動(dòng)的轉(zhuǎn)盤的累加讀數(shù)的差值確定。而近年來，還出現(xiàn)了由壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器代替機(jī)械傳動(dòng)裝置的改進(jìn)型邁克爾遜干涉儀以進(jìn)行更精密的測(cè)量。其進(jìn)行絕對(duì)距離測(cè)量時(shí)，同樣使用低相干光干涉的條紋作為標(biāo)定點(diǎn)。而距離的值則由加在壓電陶...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。