技術(shù)編號：10997586
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。干涉測量技術(shù)是以光波干涉原理為基礎(chǔ)進行測量的一門技術(shù)，干涉技術(shù)和干涉儀在光學(xué)測量中占有重要地位。與一般光學(xué)成像測量技術(shù)相比，干涉測量有大量程、高靈敏度、高精度等特點。隨著激光技術(shù)的出現(xiàn)以及在干涉測量領(lǐng)域中應(yīng)用，使干涉測量技術(shù)在量程、分辨率、抗干涉能力、測量精度等方面有了顯著地提高。從光學(xué)零件的質(zhì)量控制到光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)評價，從經(jīng)典的光學(xué)技術(shù)到自適應(yīng)光學(xué)工程，現(xiàn)代干涉測量技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域不斷拓展。但目前的干涉測量技術(shù)是采用目視或照相方法進行干涉條紋的估讀，根據(jù)干...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。