技術(shù)編號(hào):1100588
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。背景技術(shù)在X射線計(jì)算斷層攝影系統(tǒng)中,一個(gè)能量源發(fā)出X射線束通過(guò)一個(gè)物體,并且一個(gè)檢測(cè)器陣列檢測(cè)并測(cè)量通過(guò)該物體一薄部份的削弱了的X射線的強(qiáng)度,入射在每個(gè)檢測(cè)器上的X射線強(qiáng)度值被數(shù)字化并轉(zhuǎn)換成代表物體沿X射線路徑的線積分,在本稱為‘投影’。對(duì)于第三代系統(tǒng),在掃描期間,X射線源20與檢測(cè)器陣列22一起繞著物體24旋轉(zhuǎn),如附圖說(shuō)明圖1所示。在每一個(gè)旋轉(zhuǎn)角或視角,所搜集的投影代表了該物體在該角度處的投影輪廓,利用在很多角度上的一套投影輪廓,就能以所知的重建處理方法...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。