技術編號：11131565
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種紅外相干熱波成像系統(tǒng)及基于該系統(tǒng)的檢測方法，屬于紅外成像無損檢測領域。背景技術隨著航空航天、微電子、核電等領域的迅猛發(fā)展，一系列具有較高力學性能或者電學性能的薄層新材料不斷涌現(xiàn)，這些材料被廣泛地應用于國民經(jīng)濟各個領域。由于對產(chǎn)品性能要求的逐步提高，薄層材料在加工工藝過程中的質(zhì)量保證愈發(fā)受到消費者的關注。不合理的加工工藝過程容易使產(chǎn)品內(nèi)部產(chǎn)生多種不同缺陷，比如由于產(chǎn)品殘余應力未消除而造成的微裂紋、復合材料預浸樹脂時造成的氣孔及鼓包、電子元器件焊接時的脫焊現(xiàn)象等都極大的影響產(chǎn)品的使用性...
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