技術(shù)編號：11138145
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。XY偏斜的檢測和對準(zhǔn)相關(guān)申請本申請是通過在此完全引用而將內(nèi)容結(jié)合于此、提交于2012年12月28日的第13/730,193號美國專利申請的部分繼續(xù)申請(CIP)。技術(shù)領(lǐng)域本申請的各實施例涉及XY偏斜的檢測和對準(zhǔn)。背景技術(shù)光學(xué)發(fā)射器可以使用多種調(diào)制技術(shù)以調(diào)制光學(xué)信號以攜帶信息。極化(polarization)復(fù)用(PM)是如下調(diào)制技術(shù)：其中兩個獨立電數(shù)據(jù)信號被調(diào)制到具有正交極化(例如，X信道極化和Y信道極化)的光學(xué)載波上，從而使得總數(shù)據(jù)吞吐量被加倍而未加倍頻譜帶寬。正交幅度調(diào)制(QAM)是如下調(diào)制...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。