技術編號：11144726
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種PST雜散光測試數(shù)據(jù)處理方法，適用于各種類型、各種譜段航天遙感器成像系統(tǒng)高精度PST雜散光測試的數(shù)據(jù)處理和分析，屬于航天遙感技術領域。背景技術PST雜散光測試數(shù)據(jù)處理的準確性和精度主要受制于測試噪聲剝離以及數(shù)據(jù)處理算法兩個方面。前者主要是通過圖像處理的方法對CCD暗電流噪聲、測試環(huán)境雜散光噪聲(由測試光源、暗室等引入)等進行分離和提取，實現(xiàn)對各類噪聲的定量和定位分析，從而達到剝離的目的；后者是在完成噪聲的分離、提取和剔除后，針對有效數(shù)據(jù)進行的分析和處理，考慮到PST雜散光測試產(chǎn)生的...
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