技術(shù)編號(hào)：11152372
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種勘查地球物理領(lǐng)域的電法測深方法。背景技術(shù)目前在二維電法勘探中有對(duì)稱四極測深、偶極-偶極測深和中梯剖面測深法等。對(duì)稱四極測深法采用每個(gè)測量點(diǎn)均布置近似對(duì)數(shù)等間距的供電距，實(shí)現(xiàn)二維電法勘探測深，該方法的優(yōu)點(diǎn)在于每個(gè)測量點(diǎn)布置相對(duì)于測量點(diǎn)的對(duì)稱供電極，而測量電極距離控制在小于1/3供電極距，實(shí)現(xiàn)測量點(diǎn)測量信號(hào)呈現(xiàn)水平場趨勢，地質(zhì)解譯簡單。但由于每個(gè)測量點(diǎn)均需要布置一系列供電點(diǎn)，每布置一系列供電點(diǎn)，僅能測量單個(gè)測量點(diǎn)，故工作效率過低。假設(shè)某一條勘探線布置n個(gè)對(duì)稱四極測量點(diǎn)，按照表1所示的對(duì)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。