技術(shù)編號(hào)：11152683
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及顯示不均勻缺陷顯現(xiàn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示不均勻缺陷顯現(xiàn)裝置、方法和檢測(cè)設(shè)備。背景技術(shù)MM(宏觀(guān)微觀(guān))測(cè)試設(shè)備是TFT-LCD面板領(lǐng)域在宏觀(guān)檢測(cè)段主要設(shè)備。隨著面板尺寸的大型化，高分辨率，輕薄化，和低功耗的發(fā)展，玻璃基板越來(lái)越薄，其中像素也越來(lái)越小，在工藝制程中出現(xiàn)顯示不均勻缺陷幾率也逐漸增大，因此顯示不均勻缺陷顯現(xiàn)就顯得越發(fā)重要，其可以攔截不良，同時(shí)提高產(chǎn)品良率，但是現(xiàn)有的顯示不均勻缺陷顯現(xiàn)裝置中存在以下問(wèn)題：第一:雖然能檢測(cè)出Mura(顯示不均勻)缺陷，但無(wú)法準(zhǔn)確的定位和描述形貌...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。