技術編號：11175105
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于測量技術領域，具體涉及一種形位公差檢測裝置。背景技術目前形位公差的測量使用傳統(tǒng)的游標卡尺、千分尺已經(jīng)不能滿足測量的需要，一方面是該測量方法比較傳統(tǒng)，另一方面就是人為操作的不規(guī)范會導致測量結果的不精確，進一步的會導致產(chǎn)品的不合格，增加成本，而且環(huán)境的因數(shù)也對測量誤差有影響。另外，一些中小型的企業(yè)購買不起精密的檢測儀器，使企業(yè)的發(fā)展受到了很大的限制。因此，亟需一種結構簡單，操作方便，定位精度好，測量精度高的形位公差檢測裝置。發(fā)明內容為解決現(xiàn)有技術存在的勞動強度大、且測量精度低的缺陷，本發(fā)明...
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