技術(shù)編號(hào):11175908
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電路基板的檢查方法、檢查裝置及程序。背景技術(shù)近年來(lái),在電路基板的檢查裝置中,已知從定位標(biāo)記即對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記的位置,調(diào)整電路基板的被檢查電極和檢查該電路基板的檢查電極之間的相對(duì)位置關(guān)系的檢查方法(例如,參照專利文獻(xiàn)1)。此外,在這樣的檢查方法中,例如,在根據(jù)檢查結(jié)果判定為檢查電極和被檢查電極之間的位置對(duì)準(zhǔn)不合適的情況下,一點(diǎn)點(diǎn)地變更檢查電極和被檢查電極之間的相對(duì)位置關(guān)系以進(jìn)行再檢查(以下,稱為偏移重試(offsetretry))?,F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)平6-129831號(hào)公報(bào)...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。