技術(shù)編號：11197483
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體為磁敏相控陣探測組件及方法。背景技術(shù)磁敏探測組件是已知的并用在許多不同應(yīng)用中。磁敏探測組件用來例如檢查測試物體并且探測或鑒別測試物體的特性，例如，腐蝕、空洞、包含物、長度、厚度等。通常使用單個或單組探頭，為了精確地探測這些特征在測試物體內(nèi)的位置，可以使用單探頭多次多角度測量或者多個探頭或聯(lián)合其他的無損檢測方法。多次測試運(yùn)行耗費(fèi)時間并導(dǎo)致生產(chǎn)率降低。不僅如此，而且，聯(lián)合其他的無損檢測或同時使用多個探頭，使得檢測的難度增加、成本上升、并且耗費(fèi)時間?；鹆Πl(fā)電廠運(yùn)行過程中...
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