技術(shù)編號(hào)：11249159
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及超快光電子學(xué)和太赫茲光子學(xué)領(lǐng)域，具體的講是一種利用電光調(diào)制連續(xù)激光實(shí)現(xiàn)飛秒激光光源重復(fù)頻率精密調(diào)節(jié)，從而實(shí)現(xiàn)太赫茲時(shí)域電場(chǎng)快速掃描的方法，是一種實(shí)時(shí)、主動(dòng)式太赫茲光譜成像方法。背景技術(shù)太赫茲由于具有相對(duì)較弱的光子能量被稱為“無損傷探測(cè)”的光學(xué)波段。太赫茲光譜成像技術(shù)在生物醫(yī)學(xué)成像、物質(zhì)成份檢測(cè)和鑒定方面具有重要應(yīng)用價(jià)值。但目前制約太赫茲系統(tǒng)真正邁向小型化、走向?qū)嵱没囊粋€(gè)重要因素是太赫茲時(shí)域掃描方式。目前常用的太赫茲時(shí)域掃描方法主要是：基于機(jī)械平移臺(tái)的采樣探測(cè)；異步光學(xué)采樣探測(cè)方法；基...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。