技術(shù)編號：11530128
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及射線檢測器、射線攝像裝置、計(jì)算機(jī)斷層攝影裝置以及射線檢測方法。背景技術(shù)近年，通過以脈沖模式使用射線檢測器、即對每個(gè)射線進(jìn)行分解地檢測，來實(shí)現(xiàn)更高精度的裝置的動(dòng)向很活躍。關(guān)于該動(dòng)向，專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2公開了設(shè)置有大小不同的亞像素的檢測器。現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1：日本特表2011－503535號公報(bào)專利文獻(xiàn)2：日本專利5215722號公報(bào)發(fā)明內(nèi)容發(fā)明所要解決的課題在脈沖模式中，在射線的入射率高的情況下存在檢測器會飽和的問題。為了解決該問題，上述文獻(xiàn)公開了在正方形的像素的中央設(shè)置...
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