技術(shù)編號：11577291
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種壁厚測量裝置及測量方法，特別適用于尺寸精度要求高的帶圓弧的多角度圓錐體壁厚的方便測量。背景技術(shù)某些飛行物體的關(guān)鍵零件的形狀及尺寸要求非常高，例如薄壁圓錐體零件的壁厚尺寸公差經(jīng)常要求在0.05～0.10mm內(nèi)，壁厚公差過大會直接影響產(chǎn)品的性能，因此零件的壁厚測量是工序關(guān)鍵點。然而，有些薄壁圓錐體是多角度且?guī)A弧的，因形狀復(fù)雜，壁厚的精準(zhǔn)測量是個難點，人工持普通卡尺根本無法測量；采用電子儀器或超聲波測厚儀，圓錐弧面影響測量精度，三座標(biāo)設(shè)備測量整錐面各部位的測量效率太低，且成本太高。例如...
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