技術(shù)編號(hào)：11618507
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于圖像處理領(lǐng)域，特別涉及一種太陽能電池板表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)和方法。背景技術(shù)如今隨著不可再生能源污染枯竭等問題，環(huán)保問題愈發(fā)引起重視，發(fā)展可再生能源已經(jīng)是未來趨勢(shì)。預(yù)計(jì)到2030年，可再生能源在全球能源結(jié)構(gòu)中占比達(dá)30％以上。太陽能電池作為可再生能源中的重要組成部分有望迎來快速發(fā)展。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，各太陽能電池板廠商均采用降低硅晶片厚度來降低成本。目前硅晶片的厚度已普遍為百微米級(jí)，這種做法易使得產(chǎn)品出現(xiàn)裂痕、缺角等缺陷。而產(chǎn)品的合格率是企業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵因素之一，因而及時(shí)檢測(cè)出缺陷的種類針...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。