技術(shù)編號(hào)：11724247
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種表面溫度和發(fā)射率的測(cè)量裝置。背景技術(shù)利用輻射測(cè)溫儀測(cè)量表面溫度時(shí)，表面溫度的測(cè)量受發(fā)射率影響，一直是計(jì)量測(cè)試領(lǐng)域的一個(gè)沒有解決的難題?，F(xiàn)有技術(shù)中廣泛使用的各種輻射測(cè)溫儀均是在實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量器具——黑體輻射源(發(fā)射率≈1)條件下標(biāo)定的。在測(cè)量時(shí)，根據(jù)輻射信號(hào)和標(biāo)定方程即可獲得測(cè)量溫度T。然而，實(shí)際物體的發(fā)射率小于1，測(cè)量時(shí)獲得的只是亮度溫度，并不是真實(shí)的表面溫度。實(shí)際物體的發(fā)射率是復(fù)雜的、不能確定的，與物體的組份、表面狀態(tài)、波長(zhǎng)和溫度有關(guān)。所以只有知道發(fā)射率...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。