技術編號：11730199
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于目標識別和圖像處理領域，具體涉及一種基于偏振參數(shù)的偽裝識別方法。背景技術可見光圖像容易受到外界環(huán)境因素的影響，當人造目標隱藏在背景中時，由于對比度低，所以較難被發(fā)現(xiàn)。隨著軍事偽裝以及新型隱身材料的發(fā)展，目標的探測與識別變得愈發(fā)困難。偏振成像技術能夠探測到目標表面的偏振信息，利用人造目標與自然背景間的偏振特性差異可以對隱藏在自然背景中的目標進行探測與識別，在一定程度上彌補了可見光成像的不足。西北工業(yè)大學的趙永強等人對可見光多光譜段進行偏振研究，分析了自然光下地物的偏振特性，并建立起涂層目...
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