技術(shù)編號:11771060
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開涉及光檢測裝置、光檢測系統(tǒng)以及光檢測方法等。背景技術(shù)光為電磁波,除了波長、強(qiáng)度以外,還以偏振或者干涉性等特性為特征。其中,作為利用光的干涉性來測定被攝體的方法,例如可列舉“光學(xué)の原理”(東海大學(xué)出版會、p.482、M·ボルンほか)(“光學(xué)原理”(東海大學(xué)出版社、p.482、M·波恩等))所示的邁克爾遜的干涉儀。發(fā)明內(nèi)容本公開的一形態(tài)所涉及的光檢測裝置具備:光檢測器,具有主面,包含沿著所述主面配置的第1檢測器以及第2檢測器;光耦合層,配置在所述光檢測器上或者上方;以及偏振元件陣列,配置在所述...
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