技術(shù)編號：11779701
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。用于存儲器損壞檢測架構(gòu)的字節(jié)水平粒度的緩沖器上溢檢測背景存儲器損壞可以是導(dǎo)致系統(tǒng)故障的主要資源問題，并且可能負面地影響系統(tǒng)的性能。存儲器損壞可能由多種原因引起，包括：存儲器上的編程錯誤、越界訪問、懸擺指針以及惡意攻擊。在計算機程序中使用被損壞的存儲器內(nèi)容可能使得計算機程序崩潰或異常地動作。軟件解決方案可以用于存儲器損壞檢測，諸如調(diào)試工具。然而，軟件解決方案可能使得計算機程序顯著更慢地運行并且可以難以在調(diào)試計算機程序時使用。附圖說明圖1示出了根據(jù)一個實施例的存儲器損壞檢測(MCD)系統(tǒng)。圖2示出了...
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