技術(shù)編號：11822238
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及三維測量領(lǐng)域，具體涉及一種相移式光投影三維測量系統(tǒng)及方法。背景技術(shù)在現(xiàn)代工業(yè)、制造業(yè)等實(shí)際生產(chǎn)過程中需要進(jìn)行大量的測量工作，因此三維形貌測量在現(xiàn)代工業(yè)及實(shí)際生活中正發(fā)揮著越來越重要的作用。而光學(xué)三維形貌測量由于其非接觸、高精度、高速度等優(yōu)點(diǎn)，目前己成為研究的熱點(diǎn)之一。光學(xué)三維形貌測量是采用光學(xué)的手段獲得物體三維空間信息的方法和技術(shù)，其在機(jī)器視覺、實(shí)物仿形、工業(yè)檢測、生物醫(yī)學(xué)、影視特技、虛擬現(xiàn)實(shí)等領(lǐng)域，均具有非常重要的意義和廣闊的應(yīng)用前景。傳統(tǒng)的三坐標(biāo)接觸探針式三維測量方法存在著固有的缺...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。