技術(shù)編號：11862316
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及集成電路測試領(lǐng)域，特別是涉及一種SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)。背景技術(shù)隨著當(dāng)今電子科技的高速發(fā)展，現(xiàn)有的集成電路的結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜、集成化高且功能也很多樣化，面對電子信息技術(shù)的日益增長的需求，整個集成電路產(chǎn)業(yè)得到了飛速發(fā)展。在現(xiàn)有的芯片設(shè)計中，SAR(逐次逼近)模數(shù)轉(zhuǎn)換器是眾多系統(tǒng)中不可缺少的模塊，在芯片量產(chǎn)時，如何快速準(zhǔn)確的確定芯片中的SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器模塊是否存在缺陷，是非常重要的測試流程。在現(xiàn)有技術(shù)中，對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行量產(chǎn)測試時，是先由探針為SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸入不同的測試電壓，然...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。