技術(shù)編號：11920032
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于電子系統(tǒng)故障診斷技術(shù)領(lǐng)域，更為具體地講，涉及一種基于多目標(biāo)遺傳規(guī)劃算法的序貫測試優(yōu)化方法。背景技術(shù)在電子系統(tǒng)故障診斷技術(shù)中，序貫測試問題被定義為一個五元組問題(S,P,T,C,D)。其中，S＝{s0,s1,s2,…,sM}表示系統(tǒng)故障狀態(tài)的有限集，其中s0表示系統(tǒng)沒有故障發(fā)生的狀態(tài)，s1到sM表示系統(tǒng)發(fā)生不同故障的狀態(tài)。P＝{p0,p1,p2,…,pM}是各個系統(tǒng)狀態(tài)發(fā)生的先驗故障概率向量。假設(shè)系統(tǒng)只能處于某個故障狀態(tài)或無故障狀態(tài)，需要對先驗故障概率向量P進行歸一化。T＝{t1,t2,...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。