技術編號：12005777
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本公開涉及紅外輻射熱計成像和熱敏成像技術領域。更具體地說，本公開涉及一種用于校正基于所謂阻性成像輻射熱計陣列對紅外輻射成像或者熱敏成像（根據收到的輻射熱能測量場景的溫度）的紅外探測設備或者探測器的校準漂移的方法。背景技術在成像和紅外熱敏成像中，傳統(tǒng)上采用接近室溫工作的所謂“非制冷”探測器，該術語例如適用于－40°C與＋90°C之間的溫度范圍。這種探測器通?？梢岳苗甓吕淦鳎ā癟EC”）在其焦面進行溫度調節(jié)。然而，更一般地說，焦面的溫度不可變（“無TEC”）。這種設備利用了適當材料的物理量在約...
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