技術(shù)編號：12117515
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及紅外成像技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種紅外探測器盲元檢測方法。背景技術(shù)盲元是由紅外探測器陣列中響應(yīng)過低或過高的探測器組成，在圖像上表現(xiàn)為暗點(diǎn)或亮點(diǎn)，影響紅外成像質(zhì)量。依據(jù)盲點(diǎn)的響應(yīng)特性，目前盲元檢測思路有以下兩種：一種是基于圖像方法——利用圖像局部鄰域的特性；一種是依據(jù)探測器對兩個黑體的響應(yīng)變化程度；這兩種思路均能夠檢測出盲元，但是第一種思路不能適應(yīng)盲元成塊分布情況，且易受鄰域內(nèi)邊緣、噪聲影響；第二種依賴于閾值的設(shè)置，容易導(dǎo)致盲元誤檢或漏檢。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有盲點(diǎn)檢測的缺陷，提供一...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。