技術(shù)編號(hào):12174098
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及金屬平均晶粒尺寸測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種剔除曲面擴(kuò)散影響的金屬晶粒尺寸超聲衰減評(píng)價(jià)方法。背景技術(shù)晶粒尺寸是表征金屬材料微觀特性的一個(gè)重要參數(shù),如細(xì)晶強(qiáng)化是提高多晶鑄件強(qiáng)度、塑性及韌性的有效手段,而增大晶粒尺寸則可使晶界能降低,提高金屬的耐腐蝕性能。因此,在金屬構(gòu)件的生產(chǎn)和服役過(guò)程中,嚴(yán)格控制晶粒尺寸是保障金屬材料強(qiáng)度、韌性、耐候性等機(jī)械性能的關(guān)鍵之一,而有效檢測(cè)晶粒尺寸又是其的前提和基礎(chǔ)。獲取金屬材料晶粒尺寸的方法可分為有損和無(wú)損兩種,有損法如金相法具有結(jié)果直觀和檢測(cè)精度高等優(yōu)點(diǎn),但...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。