技術(shù)編號:12256124
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及對象的散射或輻射特性測量領(lǐng)域,尤其是一種小型一體化緊縮場系統(tǒng),其能夠構(gòu)建出平面波環(huán)境,具有極低背景電平,適用于小型目標(biāo)和小型天線的高精度測試,并且工作頻率最高可達(dá)200GHz。背景技術(shù)緊縮場測試系統(tǒng),是指一種在微波暗室內(nèi)建立的高精度微波測試系統(tǒng),目前,其是武器裝備雷達(dá)波隱身性能研究、高性能天線輻射特性測量、天線罩性能測量、衛(wèi)星射頻通路測試等各種微波測量應(yīng)用的必要設(shè)備。緊縮場系統(tǒng)利用精密的反射面或微波透鏡,在近距離內(nèi)將饋源天線發(fā)出球面電磁波(如圖1(a)所示)變換為近似平面電磁波(如...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。