技術(shù)編號：12359064
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片端口頻率測試方法。背景技術(shù)在芯片測試中，端口頻率測試是非常重要的部分。進(jìn)行端口頻率測試時，自動測試裝置(ATE)向芯片的輸入端口施加輸入信號，讓電路進(jìn)入相應(yīng)工作狀態(tài)，然后抓取被測輸出端口上的響應(yīng)信號，ATE對該輸出信號進(jìn)行采樣，計算程序限定的一段時間t內(nèi)，輸出信號的上升沿個數(shù)n，得到該被測端口的輸出頻率為f＝n/t,將f與端口期望輸出頻率值比較，如果一致就判斷芯片該端口輸出頻率正確，如果不一致就判斷芯片該端口輸出頻率異常。在現(xiàn)有芯片端口輸出頻率測試時，通常...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。