技術(shù)編號(hào):12455204
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種平板探測(cè)器電阻測(cè)試治具。背景技術(shù)目前,并沒(méi)有一種合適的方法及儀器,來(lái)測(cè)試組成平板探測(cè)器的零部件及各零部件之間的電阻阻值,從而無(wú)法知曉平板探測(cè)器內(nèi)零部件本身的阻值或者組裝之后的零部件之間的阻值,這樣一來(lái),在圖紙定義及IQC(IncomingQualityControl,來(lái)料質(zhì)量控制)檢測(cè)阻值時(shí),將會(huì)缺乏實(shí)際驗(yàn)證基礎(chǔ),不利于管控零部件的生產(chǎn)制備工藝和組裝水平。因此,如何快速有效地測(cè)試平板探測(cè)器的零部件及各零部件之間的電阻阻值,是亟待解決的問(wèn)題。發(fā)明內(nèi)容鑒于以上...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。