技術(shù)編號:1251372
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。不追加使用昂貴且復(fù)雜的硬件地修正SS-OCT的光源的波長掃描和由光檢測器收集數(shù)據(jù)作為光譜干涉信號的時間點(diǎn)之間的顫動而使相位穩(wěn)定化。其具有基于通過使從SS-OCT的波長掃描型光源(2)出射并被分割的、在固定參照鏡(8)反射的參照光和在被測量物體(6)反射的樣本光重合并由光檢測器(15)檢測而得的光譜干涉信號由生成斷層圖像的計(jì)算機(jī)(16)并由第一修正單元進(jìn)行粗略修正、由第二修正單元進(jìn)行更詳細(xì)修正的功能,從而使SS-OCT的相位穩(wěn)定化。專利說明 [0001...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。