技術(shù)編號：12592332
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子背散射衍射分析用樣品的制備方法，特別涉及一種電子背散射衍射分析用低碳鋼樣品的制備方法，屬于鋼鐵材料物理檢測樣品制備領(lǐng)域。背景技術(shù)電子背散射衍射（Electronback-scattereddiffraction，簡稱EBSD）技術(shù)是基于掃描電鏡中電子束在傾斜樣品表面激發(fā)出并形成的衍射菊池帶的分析，進(jìn)而確定晶體結(jié)構(gòu)、取向及相關(guān)信息的方法。EBSD主要應(yīng)用于晶粒取向分析、微觀織構(gòu)分析、晶界和晶粒度測量等。由于EBSD技術(shù)需要將樣品的觀察面偏轉(zhuǎn)70°，并且通過電子束在觀察面激發(fā)并形成衍射...
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