技術(shù)編號(hào)：12593914
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種電路測試裝置，尤其涉及一種集成電路自動(dòng)測試系統(tǒng)。背景技術(shù)集成電路在大批量生產(chǎn)需要進(jìn)過各種測試，測試包括各種功能性測試，一般不包括在極端溫度情況下的測試，因此有必要研發(fā)一種既能實(shí)現(xiàn)對(duì)集成電路功能方面的測試，又能實(shí)現(xiàn)對(duì)其在高低溫下測試的自動(dòng)測試系統(tǒng)。有鑒于上述的缺陷，本設(shè)計(jì)人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的集成電路自動(dòng)測試系統(tǒng)。發(fā)明內(nèi)容為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的目的是提供一種能夠有效地在極端溫度環(huán)境下實(shí)現(xiàn)功能性測試的集成電路自動(dòng)測試系統(tǒng)。本實(shí)用新型的集成電路自動(dòng)測試...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。