技術(shù)編號(hào)：12711966
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種真空紫外光譜輻射計(jì)校準(zhǔn)方法及裝置。背景技術(shù)通過該真空紫外光譜輻射計(jì)校準(zhǔn)裝置，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)真空紫外光譜輻射計(jì)光譜輻射亮度響應(yīng)度、光譜輻射照度響應(yīng)度和波長準(zhǔn)確度等多參數(shù)的校準(zhǔn)。真空紫外光譜輻射計(jì)的工作譜段剛好為空間物質(zhì)成分重要的特征譜段，并且能夠同時(shí)給出探測(cè)目標(biāo)的真空紫外光譜信息，其具有的優(yōu)勢(shì)使得真空紫外光譜輻射計(jì)在航天技術(shù)迅速進(jìn)步、空間科學(xué)研究空前發(fā)展的今天成為了世界各國爭(zhēng)相關(guān)注的焦點(diǎn)，其屢被發(fā)射到太空中用以對(duì)地球、太陽系乃至整個(gè)宇宙進(jìn)行觀測(cè)，通過對(duì)這...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。