技術(shù)編號：149
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及制備測量精度達(dá)1微米量級的稱為工作量規(guī)的方法及其測量元件系統(tǒng)。工作量規(guī)，也叫校對規(guī)，例如是一個塊狀物體，它被加工成顯示出兩個表面區(qū)域之間所要求的精確距離，它用作各種生產(chǎn)部件高精度加工中的比較規(guī)。當(dāng)該量規(guī)具有正確的尺寸時，再加上使用例如有足夠精確的刻度表的臺座，它就可足以進(jìn)行生產(chǎn)部件的比較測量。例如在一天的生產(chǎn)中，常常需要進(jìn)行幾次量規(guī)測量，以便能不斷地檢驗(yàn)其它的測量設(shè)備，這就意味著量規(guī)有一定的磨損，即使量規(guī)用很硬的鋼材制造，磨損也避免不了。因此，根據(jù)使用和頻繁程度和其它使用條件，常常是用精確的絕對測量來校核...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。