技術編號：15771
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。專利摘要本實用新型公開了一種厚度測量系統(tǒng)，包括至少兩組具有不同量程范圍的測量裝置，其中至少有1組測量裝置為X射線測量裝置，X射線測量裝置為小量程測量裝置。本實用新型采用至少2組測量裝置，其中至少1組是X射線測量裝置，既保證了最終產(chǎn)品的測量精度，也降低了X射線測量裝置的輸出功率，減少了輻射，也沒有測量量程的限制，對產(chǎn)品加工提供了更佳的控制。專利說明一種厚度測量系統(tǒng) 技術領域 [0001]本實用新型涉及計量技術，特別是涉及一種厚度測量系統(tǒng)。 背景技術 [0002]現(xiàn)有的厚度測量方式之一是采用X射線測厚儀，由于X...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。