技術(shù)編號(hào)：1913586
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種。該方法包含如下內(nèi)容第一激光儀上激光測(cè)量芯層直徑d，下激光測(cè)量粉末預(yù)制棒的頂端形狀P，系統(tǒng)根據(jù)頂端形狀P確定粉末預(yù)制棒提拉速度；第二激光儀上下激光分別測(cè)量包覆層上下不同點(diǎn)處直徑，進(jìn)而計(jì)算沉積包覆層斜率K。分析系統(tǒng)對(duì)比實(shí)際沉積粉末預(yù)制棒參數(shù)d1，P1和K1與設(shè)定參數(shù)d0，P0和K0的差異。粉末預(yù)制棒沉積過程中，測(cè)量系統(tǒng)(激光測(cè)徑儀)、控制系統(tǒng)、分析系統(tǒng)處于閉路循環(huán)中，系統(tǒng)處于實(shí)時(shí)的測(cè)量，分析，調(diào)整過程中，通過K值可以在包覆層沉積偏離控制中值的...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。