技術(shù)編號(hào)：2815462
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及液晶顯示(LCD)器件，具體地說(shuō)，涉及一種易于精確地測(cè)定LCD器件缺陷位置之地址標(biāo)記的改進(jìn)。在檢驗(yàn)?zāi)Ｊ狡陂g，為了容易地精確測(cè)定缺陷位置，為柵極總線(公用電極線)和信號(hào)總線設(shè)置多個(gè)地址標(biāo)記(參見(jiàn)JP-A-2000-147549)。下面將此進(jìn)行詳細(xì)的描述。然而，在上述已有技術(shù)的LCD器件中，存在如下的問(wèn)題。第一，當(dāng)通過(guò)瞬間放電將靜電荷轉(zhuǎn)移給一個(gè)地址標(biāo)記時(shí)，由于地址標(biāo)記被電絕緣，從而地址標(biāo)記被熔化，這將導(dǎo)致由于塵土帶來(lái)的缺陷。第二，如果每個(gè)地址標(biāo)記都用...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。