技術(shù)編號(hào):2944244
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)來(lái)自樣品的離子或隨后電離的中性粒子的方法和質(zhì)譜儀及其用途。背景技術(shù)用于確定固體、液體和/或氣體樣品的化學(xué)組成特別需要這種類(lèi)型的方法和質(zhì)譜儀。質(zhì)譜儀在確定固體、液體和/或氣體樣品的化學(xué)組成方面具有廣泛的應(yīng)用。通過(guò)測(cè)定質(zhì)荷比(m/q)—為簡(jiǎn)便起見(jiàn),下文稱(chēng)為質(zhì)量一既可檢測(cè)化學(xué)元素和化合物,也可檢測(cè)元素與化合物的混合物。質(zhì)譜儀由離子源、質(zhì)量分析器和離子檢測(cè)器組成。存在多種類(lèi)型的質(zhì)譜儀,其中尤其是飛行時(shí)間質(zhì)譜儀、四極質(zhì)譜儀、扇形磁場(chǎng)質(zhì)譜儀、離子...
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