技術(shù)編號(hào)：2979374
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及微分離子遷移率分析以及質(zhì)譜儀，尤其涉及微分遷移率光譜測(cè)定法與質(zhì)譜測(cè)定法的一起使用。背景技術(shù)微分離子遷移率光譜測(cè)定法(DMS)是一種基于離子遷移率光譜測(cè)定法(IMS)原理的技術(shù)。在IMS中，軸向均勻電場(chǎng)引導(dǎo)離子穿過(guò)恒壓下的氣體介質(zhì)。使帶電核素(charged species)加速的電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)力與由離子和氣體分子之間的碰撞引起的阻尼力的結(jié)合作用導(dǎo)致在施加的電場(chǎng)方向上離子的平均漂移速度。離子遷移率被定義為注入IMS單元(cell)的離子組的平均漂移速度與...
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