技術編號:3402980
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。背景技術 在等離子處理設備中處理半導體結構,其中等離子處理設備包括等離子處理腔室、供應處理氣體到腔室中的氣體源、以及由處理氣體產生等離子體的能量源。半導體結構在這樣的設備中通過下列技術被處理,這些技術包括干法刻蝕處理、沉積處理、諸如化學氣相沉積(CVD)、物理氣相沉積,或金屬、介電和半導體材料的等離子增強化學氣相沉積(PECVD)、和光刻膠剝離處理。不同處理氣體用于這些處理技術,以及處理半導體結構的不同材料。發(fā)明內容本發(fā)明提供了一種可操作地向真空腔室、諸如...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。