技術編號:39344602
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及測控設備調(diào)度,尤其涉及一種測控設備任務調(diào)度方法及系統(tǒng)。背景技術、在飛行試驗中,通過測控系統(tǒng)獲取并研判測控數(shù)據(jù),是導彈研制、試驗、優(yōu)化和評估的關鍵手段。在每次導彈飛行試驗準備過程中,根據(jù)測控設備能力和試驗需求,試驗部門選擇和部署適當?shù)臏y控設備參加導彈飛行試驗任務。隨著導彈飛行試驗任務越來越密集,在測控設備性能、數(shù)量和后勤保障能力限制,以及環(huán)境因素、發(fā)射任務等不確定性因素影響下,科學合理調(diào)度測控資源對高效發(fā)揮測控力量能力具有重要意義。、在實際應用中,上級單位下達需要執(zhí)行的任務后,基層單...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
請注意,此類技術沒有源代碼,用于學習研究技術思路。