技術(shù)編號:39346513
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及偏振圖像重建與偏振特性分析,特別是設(shè)計一種材料全偏振反射矩陣測量系統(tǒng)及方法。背景技術(shù)、面向場景對象的雙向反射分布函數(shù)(brdf)的真實建模是基于物理渲染的重要前提。在過去的幾十年,包含各種材料實測brdf值的數(shù)據(jù)庫推動了brdf模型的高速發(fā)展。但是傳統(tǒng)的brdf數(shù)據(jù)集忽略了散射對光的偏振狀態(tài)的影響,而人眼通常無法察覺到這些影響。因此,現(xiàn)有的brdf數(shù)據(jù)庫只能捕獲散射通量,或者偏振brdf數(shù)據(jù)集在空間上過于稀疏,無法用于偏振圖像渲染。因此,真實反映目標材料的偏振特性是非??扇〉摹?、目...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。