技術(shù)編號:39417642
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及大數(shù)據(jù)處理的,尤其涉及一種學(xué)位預(yù)測系統(tǒng)的控制方法及可讀存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、現(xiàn)有的學(xué)位預(yù)測模型直接預(yù)測學(xué)位數(shù)量,同時運用的特征都是單因子特征,沒有考慮組合因子的影響,對于大量稀疏特征不能很好的應(yīng)用,由此在應(yīng)用相關(guān)數(shù)據(jù)進行學(xué)位數(shù)量預(yù)測會導(dǎo)致學(xué)位預(yù)測結(jié)果并不準確。技術(shù)實現(xiàn)思路、本發(fā)明的主要目的在于提供一種學(xué)位預(yù)測系統(tǒng)的控制方法及可讀存儲介質(zhì),旨在解決在現(xiàn)有學(xué)位預(yù)測結(jié)果不準確的技術(shù)問題。、為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種學(xué)位預(yù)測系統(tǒng)的控制方法,包括以下步驟:、獲取學(xué)位預(yù)測的統(tǒng)計參數(shù),所述...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。
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