技術編號：39417646
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于化學分析，具體涉及一種銀包銅粉中氯離子含量的測定方法。背景技術、銀包銅粉作為一種性能優(yōu)異的高導電填料，廣泛應用于電子、機電、通訊、印刷、航空航天、兵器等領域。然而，如果銀包銅粉中存在過量的氯離子，將穿透并破壞覆蓋在金屬表面的鈍化膜，這種破壞作用會促使金屬表面更容易受到腐蝕環(huán)境的攻擊，從而顯著加速金屬的腐蝕速率，導致材料性能的下降和潛在的結(jié)構(gòu)問題。為確保銀包銅粉的穩(wěn)定性和耐久性，對銀包銅粉進行氯離子含量檢測尤為重要。、常見的氯離子含量測定技術包括銀量法、汞量法、離子色譜法、離子選擇電...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。