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      一種晶圓級SOI硅片陽極鍵合方法與流程技術(shù)資料下載

      技術(shù)編號:39599948

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      本發(fā)明涉及微系統(tǒng)(mems)及晶圓級封裝領(lǐng)域,具體是一種晶圓級soi硅片陽極鍵合方法。背景技術(shù)、目前在微系統(tǒng)(mems)及晶圓級封裝領(lǐng)域,基于soi硅片的陽極鍵合可應(yīng)用于與外部環(huán)境隔離的器件中,與bcb鍵合、硅硅鍵合相比,具有成本低、易加工等優(yōu)點(diǎn),可廣泛應(yīng)用于壓力傳感器、慣性陀螺、加速度計(jì)中。一般陽極鍵合采用單拋硅片或雙拋硅片與玻璃片進(jìn)行鍵合,在加工過程中需要將硅片和玻璃片加熱到℃~℃,再施加~v的直流電壓實(shí)現(xiàn)電荷的轉(zhuǎn)移,進(jìn)而在鍵合面形成穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)層。因此在加工過程中...
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