技術(shù)編號：39617190
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及控制領(lǐng)域，尤其涉及一種控制圖的構(gòu)建方法、檢測方法及裝置。背景技術(shù)、作為最先進的統(tǒng)計過程控制(statistical?process?control，spc)圖之一，順序概率比測試(sequential?probability?ratio?test，sprt)控制圖具有廣泛的過程偏移和變化檢測能力?，F(xiàn)有的sprt控制圖在已知工藝參數(shù)(known?parameters)下開發(fā)，并未從第一階段(phase-i)數(shù)據(jù)計算控制限值，直接要求用戶設(shè)置預(yù)定的目標均值和標準偏差，若采用不合適的參數(shù)和...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。