技術(shù)編號：39620276
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及集成電路測試，例如涉及一種用于rfid芯片的cp測試的系統(tǒng)、方法及裝置。背景技術(shù)、集成電路的測試依然是半導(dǎo)體行業(yè)關(guān)注的重點，而cp（chip?probing，芯片探針測試）測試則是芯片測試的第一道關(guān)卡，cp測試的可靠性與效率直接關(guān)乎芯片的整個生命周期。作為一種僅能依靠rf（radio?frequency，射頻）通信的rfid（radio?frequencyidentification?chip，射頻識別芯片）芯片，rfid芯片的cp測試與大部分智能卡芯片的測試不同，由于rfid芯片不...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。